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文章来源 : 粤科检测 发表时间:2023-02-20 浏览量:
GJB33A-1997标准规定了军用半导体分立器件的试验方法,江苏粤科检测是专业第三方电子元器件筛选检测机构,实验室具备GJB33A标准CNAS检测资质和检测能力,可提供军用半导体分立器件GJB33A-1997筛选检测、元器件二次筛选服务。
GJB 33A-1997 《半导体分立器件总规范》
GJB33A-1997标准规定了军用半导体分立器件的一般要求,适用于半导体分立器件的研制、生产和采购。
元器件的质量和可靠性可用元器件的质量等级表示,不同元器件的质量等级有不同的表示方式。国军标器件的质量等级一般用质量保证等级表示,GJB33A-1997标准半导体分立器件的质量保证等级分为:JP(普军级)、JT(特军级)、JCT(超特军级)、JY(宇航级)。
1. 内部目检
2. 高温寿命
3. 温度循环
4. 恒定加速度
5. 粒子碰撞噪声检测
6. 不稳定性冲击试验
7. 密封(细检漏、粗检漏)
8. 编序列号
9. 中间测试电参数
10. 高温反偏(HTRB)
11. PDA的中间电测试和变化量
12. 功率老练
13. 终点测试
14. X射线照相
15. 目视检查
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2. 评估报价:根据检测要求、样品规格及参数评估报价;
3. 填写委托书:向优科发起检测申请,填写委托书(会有专人指导填写);
4. 付款及提供样品资料:按照协定报价支付费用,按要求提供足够数量的样品及产品资料;
5. 安排检测:按委托要求对产品进行检测;
6. 出具报告:依据检测数据出具报告,将报告、发票及样品回寄客户。
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